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講解回路電阻測(cè)試儀測(cè)試電阻的原因與影響

回路電阻測(cè)試儀廠家

智能回路電阻測(cè)試儀大電流：采用最新開(kāi)關(guān)電源技術(shù)，能長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)輸出大電流，克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端，可以有效的擊穿開(kāi)關(guān)觸頭氧化膜，得到良好的測(cè)試結(jié)果。影響回路電阻測(cè)試儀接觸電阻的原因？

1材料性質(zhì)：硬度、化學(xué)性質(zhì)、金屬化合物的機(jī)械強(qiáng)度與電阻率。

2接觸形式：點(diǎn)接觸、線接觸、面接觸。

3 接觸面狀況：當(dāng)接觸面形成氧化膜時(shí)（銀例外），氧化膜比金屬本身的電阻要大得多。

4接觸壓力。

5 接觸表面的粗糙度。

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